Harry Nyquist
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Naissance | 7 février 1889 Stora Kil, Nilsby, Värmland, Suède |
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Décès | 4 avril 1976(à 87 ans) Harlingen (Texas), États-Unis d'Amérique |
Nationalité | Américaine |
Pays de résidence | États-Unis d'Amérique |
Profession | Ingénieur en électronique |
Distinctions | Médaille d'honneur de l'IEEE (1960) Médaille Stuart Ballantine (1960) Médaille Rufus Oldenburger (1975) |
Harry Nyquist (pron. [nʏ:kvɪst], pas [naɪkwɪst]) (7 février 1889 - 4 avril 1976) a été un important contributeur à la théorie de l'information et à l'automatique.
Sommaire
1 Biographie
2 Source principale
3 Articles connexes
4 Notes et références
5 Liens externes
Biographie |
Il est né dans le hameau de Nilsby (Värmland) en Suède. Il émigra vers les États-Unis en 1907 et entra à l'université du Dakota du Nord en 1912. Cinq ans plus tard, il fut reçu comme docteur en physique à l'université Yale. Après avoir travaillé de 1917 à 1934 chez AT&T, il partit pour les laboratoires Bell.
Aux Bell Labs, il fit des recherches sur le bruit thermique appelé également «bruit de Johnson-Nyquist» et sur la stabilité des amplificateurs bouclés (voir Diagramme de Nyquist).
Ses travaux théoriques sur la détermination de la bande passante nécessaire à la transmission d'information, publiés dans l'article Certain factors affecting telegraph speed[1] posent les bases pour les recherches de Claude Shannon qui amèneront la théorie de l'information.
En 1927, Nyquist détermine qu'un signal analogique doit être échantillonné à au moins deux fois la plus haute fréquence le constituant si l'on veut le convertir en un signal numérique correspondant. Ce résultat, connu sous le nom de théorème d'échantillonnage de Nyquist-Shannon, a été publié dans l'article Certain topics in Telegraph Transmission Theory (1928).
Il prit sa retraite en 1954 et mourut à Harlingen au Texas.
Source principale |
(en) Biographie sur le site IEEE Global History Network
Articles connexes |
- Théorème d'échantillonnage de Nyquist-Shannon
- Diagramme de Nyquist
- Théorie de l'information
Notes et références |
Bell System Technical Journal, 3, 324-346, 1924
Liens externes |
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